Formtracer  (表面粗糙度/輪廓測量裝置)  CS-3200

525系列-表面粗糙度/輪廓測量裝置

日本三豐品牌  MITUTOYO  525-411  表面粗糙度測量儀

特點：

1、驅動器（X軸）與立柱（Z2軸）均配備有高精度線性標尺（ABS）型，從而可實現豎直方向與水平方向運動中的全自動測量。小孔沿豎直方向的連續自動測量與難于定位部件的重復測量的再現性得以改進。

2、急劇增大的驅動速度（X軸：80mm/s,Z2軸：20mm/s）進而可縮短總的測量時間。利用X軸與Z2軸上的微調給進旋鈕可有效測量小孔。

3、為避免驅動器與工件之間的相互干擾，檢測器可加以延伸擴展。所有檢測器與驅動器的連接線均封裝在主機內部，以防磨損并確保無障礙高速運行。

4、當指定輪廓檢測器3000*或4000*時，Z1軸（高）方向的測量范圍由5mm急劇增加到50mm。

5、驅動器（X軸）傾斜功能強力支持傾斜平面的測量及不易移動的重型工件的測量。

基本技術參數：

基座尺寸（W×D）：600×450mm

基座材料：花崗巖

尺寸（W×D×H）：756×482×966mm（主機）

重量:140 Kg(主機)

電源：100-240VAC±10%,50/60Hz

能耗：400W（主機）

技術參數：

X1軸

測量范圍：100mm

分辨率：0.05μm

驅動速度：0-80mm/s外加手動

測量速度：0.02,0.05,0.1,0.2mm/s(在表面粗糙度測量時)

0.02,0.05,0.1,0.2,0.5,1,2mm/s

測量方向：向前/向后

直線度： 0.2μm/100mm      *以X軸為水平方向上

指示精度（20℃時）：±（0.8+0.01L）μm  L=驅動長度（mm）

傾斜長度： ±45°

Z1軸：

測量范圍： 5mm

分辨率：80nm(5mm范圍)   8nm(0.5mm范圍)    0.8nm(0.05mm范圍)

指示精度（20℃時）：±（1.5+I2HI/100）μm     H為基于水平位置的測量高度（mm）

測力：30mN

跟蹤角度：±65°（使用配置的標準測頭，依表面粗糙度而定）

針尖（標準型）：金剛石針尖，針尖角度：60°，**半徑2μm

針尖（圓錐）：藍寶石針尖，針尖角度：30°，**半徑25μm

測針方向：向下

Z2軸（立柱）

立柱移動： 300mm

分辨率：1μm

驅動速度：0-20mm/s外加手動

性能參數：

*為區分交流電源電纜，在貨號后加上以下后綴：

“mm”型：A適于UL/CSA,C適于JIS（適于臺灣地區），D適于CEE,E適于BS,DC適于中國，K適于EK

“inch”型：A適于UL/CSA,D適于CEE,E適于BS,DC適于中國，無后綴適于JIS/100V(適于臺灣地區)

測針：